测量臂内的距离测量可通过两种方式实现：已知参考路径长度，或利用测量臂内的反射作为参考。通常，器件（DUT）内部的陶瓷插芯（Ferrule）或光子集成电路（PIC）的输入端面可作为距离测量的便捷参考点。

需注意的是，图1和图2所示配置均基于反射测量原理。因此，时间延迟（τ）和光程差（ɭ）均是相对于参考臂而言，并且包含了光在测量臂中往返传播以到达特定反射点这一事实。如图1所示。

CTP10测试平台是一款高性能多端口检测系统。它与扫频可调谐激光器协同工作，能够以高动态范围和皮米（pm）级分辨率执行插入损耗（IL）与回波损耗（RL）的测量。在光学频域反射（OFDR）测量中，测得的传递函数对应于干涉图样。

• 测量范围：1 pm的采样分辨率在空气中提供约1.3米的测量范围（反射配置下为0.65米），足以满足光子集成电路（PIC）及大多数光学子组件的测试需求。

• 空间分辨率：所采用的T100S-HP系列扫频激光光源波长覆盖100至200 nm，理论上可在空气中实现12至20 µm的空间分辨率（在玻璃中为8至13 µm）